仪器用途：
用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析。
仪器特点：
1.光学系统采用无限远色差校正光学系统。
2.软件通俗易懂，可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量，可根据客户要求定制软件功能。
规格参数：
| 型号 | YX-JX30 | YX -JX40 |
| 光学放大倍率 | 50x~500x | 50x~500x |
| 目镜 | 10x（带测微尺） | 10x（带测微尺） |
| 物镜 | 5x、10x、20x、50x | 5x、10x、20x、50x |
| 转换器 | 四孔滚珠式转换器 | 内定位五孔转换器 |
| 照明系统 | 落射照明装置：高亮度LED灯照明，亮度可调。 | 上照明系统：反射灯室、暖色 下照明系统：透射灯室、暖色 |
CCD相机 | 300万像素高清摄像机 | 300万像素高清摄像机 |
| 测量精度 | 0.0012mm | 0.0012mm |
| 载物台 | 双层机械载物：190x140m m移动范围：750x50mm | 双层机械载物台：175x145mm 移动范围：76x42mm |
| 样品高度 | 最大样品高度28mm | 最大样品高度28mm |
| 测量软件 | YX-J | YX-J |